Die Vermessung und Charakterisierung von nanoskaligen Objekten ist eine große technische und metrologische Herausforderung. Durch die Technologie-Entwicklungen der letzen Jahre ist es möglich geworden, in immer kleinere Dimensionen vorzudringen.
In den Laboren der BAM steht heute eine hochauflösende Mess- und Prüftechnik auf dem aktuellen Stand der Technik für die Charakterisierung und Analyse von Nanomaterialien zur Verfügung.
Wir analysieren und charakterisieren die folgenden Nanomaterialien:
Je nach zu bestimmender physikalischer Größe oder chemischer Eigenschaften setzen wir unterschiedliche Charakterisierungs- und Analysemethoden ein.
Nanopartikel charakterisieren wir hinsichtlich ihrer partikel-spezifischen Eigenschaften u.a. mittels bildgebender (z.B. TEM, SEM, ESEM), röntgenspektroskopischer (z.B. SAXS, EDX, WDX, XRF, XPS/ESCA, XANES), massenspektrometrischer (z.B. ToF-SIMS) oder optischer (z.B. DLS, Fluoreszenzspektroskopie) Messverfahren.
Darüber hinaus setzen wir SMPS (Scanning Mobility Particle Sizer) und EEPS (exhaust emision particle sizer), optische Partikelzähler (CPC) sowie Kaskadenimpaktoren zur Partikelcharakterisierung ein. Diese Methoden sind insbesondere geeignet, um Nanopartikel-Emissionen und Aerosole zu untersuchen.
Folgende Endpunkte werden bestimmt:
Weiterführende und detaillierte technische Informationen zu unseren Messverfahren, Auflösung, Messgenauigkeit, praktischen Anforderungen und über die Nanotechnologie hinausgehende Anwendungen erteilen die Ansprechpartner in den folgenden Fach- und Arbeitsgruppen:
Fachbereich 1.3
Fachbereich 1.10
Fachbereich 4.2, Charakterisierung von Partikeln und Aerosolen
Fachbereich 5.1, Nanocharakterisierung von Werkstoffen
Fachbereich 6.5
Spezifische Eigenschaften von Nanopulvern und Nanodispersionen werden mittels Ultraschallspektroskopie, Partikelladungsdetektion, Viskosimetrie, SMPS/EEPS, BET und weiteren Verfahren bestimmt.
Diese Messverfahren liefern die folgenden Endpunkte:
Weiterführende und detaillierte technische Informationen zu unseren Messverfahren, Auflösung, Messgenauigkeit, praktischen Anforderungen und über die Nanotechnologie hinausgehende Anwendungen erteilen die Ansprechpartner in den folgenden Fach- und Arbeitsgruppen:
Fachbereich 4,2, Charakterisierung von Partikeln und Aerosolen
Fachbereich 5.5
Fachbereich 5.6
Für die Analyse und Charakterisierung nanostrukturierter Polymere setzen wir u.a. Verfahren wie die dielektrische Spektroskopie oder MALDI-ToF-MS ein.
Folgende Endpunkte werden durch diese Methoden bestimmt:
Wir charakterisieren verschiedenartige Werkstoffe hinsichtlich ihrer Eigenschaftsänderungen aufgrund der Verwendung und des Einsatzes von Nanomaterialien. Ziel ist der Nachweis von verbesserten optischen, mechanischen, elektrischen oder funktionalen Eigenschaften der Nanokomposite und nanostrukturierten Materialien.
Weiterführende und detaillierte technische Informationen zu unseren Messverfahren, Auflösung, Messgenauigkeit, praktischen Anforderungen und über die Nanotechnologie hinausgehende Anwendungen erteilen die Ansprechpartner in den folgenden Fach- und Arbeitsgruppen:
Fachbereich 1.3, Polymeranalytik
Fachbereich 6.6
Fachbereich 6.10
Fachbereich 7.1
Fachbereich 8.4, Ultraschallsonderprüftechniken
Topographie
Topographie und Rauheit werden mittels bildgebender (z.B. SEM, AFM) und optischer (z.B. WLIM) Verfahren bestimmt.
Weiterführende und detaillierte technische Informationen zu unseren Messverfahren, Auflösung, Messgenauigkeit, praktischen Anforderungen und über die Nanotechnologie hinausgehende Anwendungen erteilen die Ansprechpartner in den folgenden Fach- und Arbeitsgruppen:
Fachbereich 6.7
Fachbereich 6.9
Chemische Analyse
Für die chemische Analyse von Oberflächen und Beschichtungen stehen röntgenspektroskopische Verfahren (z.B. XPS/ESCA, XRF, EDX, WDX), Auger-Elektronen-Spektroskopie, massenspektrometrische Verfahren (z.B. ToF-SIMS) zur Verfügung.
Folgende Endpunkte werden u.a. bestimmt:
Weiterführende und detaillierte technische Informationen zu unseren Messverfahren, Auflösung, Messgenauigkeit, praktischen Anforderungen und über die Nanotechnologie hinausgehende Anwendungen erteilen die Ansprechpartner in den folgenden Fach- und Arbeitsgruppen:
Optische, mechanische, elektrische Eigenschaften
Die Bestimmung von optischen, mechanischen und elektrischen Eigenschaften erfolgt mittels spektraler Ellipsometrie, Lasteindringverfahren, AFM-Verfahren.
Folgende Endpunkte werden u.a. bestimmt:
Weiterführende und detaillierte technische Informationen zu unseren Messverfahren, Auflösung, Messgenauigkeit, praktischen Anforderungen und über die Nanotechnologie hinausgehende Anwendungen erteilen die Ansprechpartner in den folgenden Fach- und Arbeitsgruppen:
Fachbereich 6.7
Fachbereich 6.9
Tribologische Eigenschaften
Zur Bestimmung von tribologischen Eigenschaften, hochfrequenter Reibung, „Nullreibung“ wird Rastersondenmikroskopie, speziell AFM, auch in situ im ESEM sowie im UHV, eingesetzt.
Weiterführende und detaillierte technische Informationen zu unseren Messverfahren, Auflösung, Messgenauigkeit, praktischen Anforderungen und über die Nanotechnologie hinausgehende Anwendungen erteilen die Ansprechpartner in den folgenden Fach- und Arbeitsgruppen:
Fachbereich 5.1, Nanocharakterisierung von Werkstoffen
Fachbereich 6.9
Arbeitskreis Nanotechnologie
Kontakt
E-Mail:
aknano@bam.de
Telefon:
+49 30 8104-3845
Leitung
Dr. rer. nat.Stellvertretende Leitung
Prof. Dr. rer. nat.Geschäftsführung
Dr. rer. nat.
Mark A. Bader
Unter den Eichen 44-46
12203 Berlin
Telefon:
+49 30 8104-3845
E-Mail:
mark-andreas.bader@bam.de